Caracterización Electromagnética

ELECTROMAGNETIC CHARACTERIZATION OF MATERIALS

La elipsometría es una técnica óptica empleada en el análisis de superficies. Se basa en la medición de la variación del estado de polarización de la luz después de la reflexión sobre una superficie plana. Las principales ventajas de la elipsometría son su carácter no destructivo y la sencillez en la preparación de muestras para su análisis.

Ellipsometer

El equipo instalado en el CINN permite realizar además otras caracterizaciones magneto-ópticas como transmitancia óptica y análisis Kerr y Faraday.

Desde el año 2009, el CINN viene empleando la elipsometría así como otras técnicas ópticas y magneto-ópticas relacionadas en el estudio de una amplia variedad de materiales como películas delgadas: metales, semiconductoress, dieléctricos y materiales densos: dieléctricos, metales, materiales compuestos, ferromagnéticos ...

Services Offered

Caracterización Óptica Mediante Elipsometría, Reflectancia, Transmisión

El rango de medición abarca desde 190 nm a 2 micras, con una resolución superior a 0,5 nm entre 190 y 900 nm con el detector DUV-VIs DUV y superior a 3 micras entre 0,75 y 2 micras con el detector NIR, en ambos casos con espectrómetros de alta resolución.

Alternativamente, es posible obtener espectros completos en tiempos mucho más cortos, de alrededor de 1 s, entre 250 y 990 nm con un detector CCD y una resolución inferior a 3 nm y entre 0,9 y 1,7 micras con el detector NIR y una resolución no mejor deinferior a 9 nm.

Para las muestras no homogéneas, por ejemplo, con un gradiente de composición, o muestras de pequeño tamaño, se pueden realizar medidas con haces milimétricos lo que permite el análisis de áreas de tamaño 0,365 x 0,27 mm bajo águlos de incidencia de 75º. Bajo incidencia normal es posible estudiar regiones con un tamaño por debajo de 0,3 mm de diámetro. Además, las muestras pueden ser posicionados con una precisión superior a 5 micras.

Caracterización Magneto-Óptica

Es posible aplicar un campo magnético a las muestras en estudio y llevar a cabo análisis de espectroscopia Kerr entre 190 nm y 2 micras o estudios de espectroscopía de Faraday en el mismo rango espectral con una precisión superior a 0.01º.

Caracterización Dieléctrica

Se pueden realizar estudios de caracterización dieléctrica de materiales en el rango de frecuencias comprendido entre 0.1Hz-8 GHz.

Avda. de la Vega 4-6

33940. El Entrego

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